K6-C涂層測(cè)厚儀內(nèi)部配備了不同頻率和晶片尺寸的探頭，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)不同材料的表面鍍膜厚度測(cè)量，通過探頭到零度校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)等功能進(jìn)行自動(dòng)的誤差調(diào)整，同時(shí)，使用反測(cè)聲速，來(lái)提升測(cè)量準(zhǔn)確度。根據(jù)測(cè)量的材質(zhì)不同而使用不同的測(cè)量方式。其中，常用的兩種測(cè)量工作方式是磁感應(yīng)測(cè)量和電渦流測(cè)量。
磁感應(yīng)測(cè)厚方法主要用來(lái)測(cè)量導(dǎo)磁性材料上的非導(dǎo)磁鍍層厚度，這種測(cè)量的方法準(zhǔn)確度較高，通常用來(lái)測(cè)量鋼、鐵、銀等導(dǎo)磁材料。當(dāng)K6-C涂層測(cè)厚儀的探頭與覆層接觸時(shí)，探頭會(huì)與磁性金屬基體形成一個(gè)閉合的磁路，但是磁性金屬表面的非磁性覆層將會(huì)阻礙磁路，從而發(fā)生磁阻變化，通過測(cè)量磁阻的變化量，就可以得到表面覆蓋層的厚度。
影響K6-C涂層測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果的因素可能有：
1、覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；
3、任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；
4、對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),，即對(duì)靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；
5、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大。
